熱工藝的時(shí)間與溫度的關(guān)系由其溫度曲線圖形象化的顯示出來(lái)。任何一家生產(chǎn)者的任務(wù)是確保這個(gè)溫度曲線能符合相關(guān)的工藝規(guī)格。

  KIC使用工藝窗口指數(shù)PWI的概念，以一個(gè)單一數(shù)字來(lái)測(cè)定這個(gè)關(guān)系。 熱工藝制程本身具有內(nèi)在的復(fù)雜性，也因此要確定一個(gè)熱工藝設(shè)置是否達(dá)標(biāo)就變成不容易的一件事。 而使用異常簡(jiǎn)練卻強(qiáng)有力：

• 高于100的PWI值代表其溫度曲線超標(biāo)
• 低于100的PWI值代表溫度曲線符合工藝規(guī)格
• PWI值越低，代表其制程越接近工藝規(guī)格的中心

一個(gè)單一的PWI值就能夠讓您知悉一切， 并且具有如下優(yōu)點(diǎn)：

• 客觀性
• 超越語(yǔ)言上的障礙
• 獨(dú)立于設(shè)備和操作人員的因素
• 即時(shí)的分析結(jié)果
• 為工藝優(yōu)化過(guò)程打下基礎(chǔ)

  讓我們闡述上述的最后一個(gè)優(yōu)點(diǎn)。 由于現(xiàn)今電子行業(yè)日趨復(fù)雜，工廠已不能單只是靠其制程設(shè)置能符合工藝范圍來(lái)應(yīng)付大批量的生產(chǎn)需求。工藝的設(shè)置必須能使其十分靠近工藝窗口的中心點(diǎn)，以便其能夠容納制造過(guò)程中出現(xiàn)的內(nèi)在自然漂移。PWI測(cè)定每個(gè)溫度曲線接近其工藝范圍中心的程度。PWI也因此能判定不同的溫度曲線的優(yōu)劣， 而為其排列出等級(jí)。無(wú)論您有多少個(gè)不同的工藝設(shè)置，PWI都能從中找出最佳設(shè)置。

  當(dāng)KIC的精確的工藝模擬軟件結(jié)合了現(xiàn)代計(jì)算機(jī)的速度，您就能擁有一個(gè)強(qiáng)而有力的制程能力來(lái)瞬間獲取一個(gè)處于工藝范圍中心的設(shè)置！

計(jì)算PWI

  一個(gè)溫度曲線里的全部參數(shù)都能各自生成一個(gè)PWI值，其中最差的那一個(gè)（最大數(shù)）既是此溫度曲線的PWI。例如：如果運(yùn)行一個(gè)具有三個(gè)熱電偶的溫度曲線，且每個(gè)熱電偶內(nèi)含四個(gè)參數(shù)，那么此溫度曲線將擁有12個(gè)參數(shù)數(shù)據(jù)。從所有參數(shù)里出現(xiàn)的最差的PWI值將是該溫度曲線的PWI（以最大的百分比來(lái)表示）

PWI的計(jì)算公式涵蓋了所有熱電偶的每一個(gè)參數(shù)。PWI公式計(jì)算如下: